Alliance de la métrologie et microscopie

Zeiss, spécialisée en solutions de métrologie, lance sa dernière innovation, la machine de mesure tridimensionnelle O-Inspect Duo. Cette nouveauté couvre deux applications essentielles en matière de contrôle qualité : la mesure d’un côté et l’inspection haute résolution de l’autre, pour les pièces industrielles de tout format. La machine a également été spécialement développée pour les applications où une combinaison de mesure dimensionnelle et d’imagerie est requise, notamment la segmentation, l’assemblage et le traitement d’images en couleur. Au lieu d’acquérir deux systèmes, une machine de mesure tridimensionnelle et un microscope, les industriels peuvent désormais utiliser un seul équipement, permettant d’économiser en coûts et en espace dans le laboratoire de métrologie.

L’O-Inspect Duo, à l’instar de la gamme existante O-Inspect, est équipée de capteurs tactiles et optiques de haute précision, permettant une flexibilité maximale dans les processus de mesure. Elle intègre les dernières avancées en matière de capteurs tactiles et optiques, ainsi que des capacités de microscopie, assurant des performances supérieures et une fiabilité constante. Elle intègre des fonctionnalités de microscopie, permettant une analyse détaillée des surfaces à un niveau microscopique. Cette capacité supplémentaire est essentielle pour détecter et analyser des défauts et des irrégularités invisibles à l’œil nu ou avec des méthodes de mesure conventionnelles.