Système de mesure par analyse d’image

lire plus tard
Contrôle Par  Patrick CAZIER Publié le  26/02/2021
Système de mesure par analyse d’image
Palpeur MPP-Nano.

Mitutoyo élargit son offre de machines de mesure par analyse d’image CNC multicapteur, avec l’arrivée d’un équipement baptisé MiScan Vision System. Il est doté du palpeur de scanning MPP qui lui confère une précision en scanning. Ce système de mesure par analyse d’image multicapteur est proposé en deux versions, Apex et Hyper. La première utilise le palpeur de scanning éprouvé SP25M. Sur la version Hyper, l’utilisateur peut également opter pour le MPP-Nano, qui permet de mesurer les plus petits détails avec une précision élevée.

La technologie MPP-Nano, développée par Mitutoyo, avec ses stylets allant de 125 μm jusqu’à 500 μm, permet l’acquisition de profil, forme et géométrie minuscules par palpage continu. La précision de palpage et de scanning est de 0,6 µm, pour une résolution exceptionnelle de 0,02 µm.

Le MiScan Vision System couvre ainsi toutes les tâches de mesure pour des pièces de petites à moyennes dimensions, quel que soit le niveau de précision requis : moyen (version Apex) à très élevé (version Hyper équipée du palpeur de scanning MPP-Nano). Il allie les fonctionnalités d’un système de mesure par analyse d’image à la polyvalence d’une machine de mesure tridimensionnelle équipée du contrôleur UC400. Il intègre une caméra CCD et plusieurs systèmes d’éclairage : éclairage coaxial, éclairage de la table, ou encore éclairage annulaire par LED. La suite logicielle MCosmos intègre désormais le logiciel VisionPak-Pro pour les applications de mesure par analyse d’image.

MITUTOYO FRANCE http://www.mitutoyo.fr
Système de mesure par analyse d’image
Patrick CAZIER Technicien dans l’âme avec pour objectif de trouver et partager l’information utile
Couverture magazine Machines Production
Logo Machines Production
L'offre 100% numérique
18€/mois, sans engagement
  • Accès illimité
  • Tout le contenu magazine
  • Numéro hors série inclus
  • 100% numérique