Système de mesure par analyse d’image
La technologie MPP-Nano, développée par Mitutoyo, avec ses stylets allant de 125 μm jusqu’à 500 μm, permet l’acquisition de profil, forme et géométrie minuscules par palpage continu. La précision de palpage et de scanning est de 0,6 µm, pour une résolution exceptionnelle de 0,02 µm.
Le MiScan Vision System couvre ainsi toutes les tâches de mesure pour des pièces de petites à moyennes dimensions, quel que soit le niveau de précision requis : moyen (version Apex) à très élevé (version Hyper équipée du palpeur de scanning MPP-Nano). Il allie les fonctionnalités d’un système de mesure par analyse d’image à la polyvalence d’une machine de mesure tridimensionnelle équipée du contrôleur UC400. Il intègre une caméra CCD et plusieurs systèmes d’éclairage : éclairage coaxial, éclairage de la table, ou encore éclairage annulaire par LED. La suite logicielle MCosmos intègre désormais le logiciel VisionPak-Pro pour les applications de mesure par analyse d’image.