Tomodensitométrie : un nouvel algorithme pour scanner de plus grandes pièces
lire plus tard
Contrôle Qualité
Par Jérôme MEYRAND Publié le
27/05/2021
Nikon Metrology a indiqué, jeudi 26 mai, que ses solutions d’inspection en tomodensitométrie (TDM) industrielle microfocus étaient à présent dotées d’un nouvel algorithme de reconstruction par offset (décalage). Ce qui permet de « fournir une vitesse de balayage et une résolution d’image inégalées », assure le métrologue japonais.
Intégré dans la dernière version de son logiciel Inspect-X, l’algorithme va donc offrir la possibilité de scanner de plus grandes pièces, tandis que « le grandissement géométrique » choisi pourra être également augmenté. Présenté sous la forme d’un module Offset.CT, il est disponible sur tous les systèmes TDM, du 180 kV au 450 kV.
à propos de controle
MACHINES PRODUCTION
[Edito] Des machines et des outils au service de la santé
Contrôle Qualité
article
les plus lus
à lire aussi
-3D5Gabrasifaccouplement
ALCHIMIES
Aspiration, dépoussiérage, lavage, filtration et ventilation
Lubrification - Lavage
article
ALCHIMIES
La technologie des implants cochléaires avec des marquages laser de pointe
Machines d'usinage
article
Les nouveaux produits
Les dernières annonces
offre d'emploi
TECHNICIEN DE MAINTENANCE EN MACHINES-OUTILS
50% à Chonas l'Amballan (38121) 50% en déplacement dans toute la France (période de formation en Espagne et Italie)
NHIC TECHNICAL CENTER