Mesure 3D haute résolution submicronique | Machines Production

Mesure 3D haute résolution submicronique

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Contrôle Qualité Par Patrick CAZIER Publié le  19/07/2022
Mesure 3D haute résolution submicronique
Système de mesure 3D haute résolution submicronique.


Le HRX-01 est une génération des microscopes numériques 3D Hirox – combiné au NPS Nano Point Scanner – système confocal à lumière blanche de mesure 3D. Il s’agit du système prévu pour l’analyse et la mesure 2D/3D à une résolution submicronique. C’est le fruit de plus de 40 ans d’expérience dans la fabrication optique par Hirox. Le capteur CMOS 5 mégapixels supporte une très haute résolution à 50 images par seconde et offrent des détails et une clarté d’image très intéressantes.

L’intelligence artificielle du HRX-01 choisit automatiquement les meilleurs ajustements d’observation selon la scène et l’objet en vue. Il est possible de choisir parmi des éclairages externes contrôlables comme le double fibre, offrant une bien plus grande flexibilité d’observation. Grâce à un ordinateur Windows 4K, on peut choisir les fonctionnalités et logiciels adaptés aux échantillons et préférences. On a la possibilité de création et d’enregistrement de réglages personnalisés. Ce système permet d’effectuer des contrôles de profils, mesures de rugosité de lignes et de surface en un clic (Ra, Rz, Rt, Sa, Sz…) sur tout type d’échantillon (même transparent) pour un large éventail d’applications : R&D, analyse de défauts, contrôle qualité…

Hirox propose des configurations uniques et modulaires grâce à une multitude de capteurs et lentilles haute qualité ainsi qu’à des possibilités de mouvements en X-Y-ZR (axes motorisés jusqu’à 1,5 m) et types d’éclairages variés (polarisation, diffusion, UV, etc).

Mesure 3D haute résolution submicronique
Patrick CAZIER - RédacteurTechnicien dans l’âme avec pour objectif de trouver et partager l’information utile

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