Nikon Metrology a indiqué, jeudi 26 mai, que ses solutions d’inspection en tomodensitométrie (TDM) industrielle microfocus étaient à présent dotées d’un nouvel algorithme de reconstruction par offset (décalage). Ce qui permet de « fournir une vitesse de balayage et une résolution d’image inégalées », assure le métrologue japonais.

Intégré dans la dernière version de son logiciel Inspect-X, l’algorithme va donc offrir la possibilité de scanner de plus grandes pièces, tandis que « le grandissement géométrique » choisi pourra être également augmenté. Présenté sous la forme d’un module Offset.CT, il est disponible sur tous les systèmes TDM, du 180 kV au 450 kV.