Taylor Hobson (division du groupe Ametek) mérite un éclairage particulier pour son profilomètre optique CCI HD, qui mesure les états de surface d’un grand nombre de variétés de pièces. Sa résolution verticale de 0.01 nm, accompagnée d’un faible bruit de fond de 0.02 nm, font de cet instrument un système de mesure de rugosité et de profil d’une grande répétabilité. Ce profilomètre CCI HD est particulièrement bien adapté pour mesurer les états de surface de petites pièces, mais aussi de composants de plus grande dimension grâce au stitching sur ses 3 axes. Sa facilité d’utilisation permet de le faire travailler dans l’environnement de production. Le CCI HD utilise un algorithme de corrélation innovant et breveté pour rechercher le pic de cohérence et la position de phase d’un gabarit d’interférence produit par une unité de numérisation optique de précision. Le CCI HD garantit les 2 types de mesure d’épaisseur de film, ainsi que des fonctionnalités de mesure dimensionnelle et de rugosité. Il est désormais possible d’étudier les revêtements film fin supérieurs ou égaux à 50 nm (également en fonction de l’indice de réfraction) par interférométrie. Cette nouvelle approche permet l’étude des caractéristiques telles que l’épaisseur de film, la rugosité d’interface, les défauts de piqûre des surfaces avec revêtement fin, le tout à l’aide d’une seule mesure. L’appareil repose sur une matrice de pixels de 2 048 x 2 048 pour un grand champ de vision avec haute résolution de 0,1 angström sur l’ensemble de la plage de mesure. Il est de plus possible de gérer une réflectivité de surface de 0,3% à 100% avec une répétabilité RMS < 0,2 angström. Un logiciel de contrôle et d’analyse 64 bits est disponible en plusieurs langues.