Werth propose une précision élevée à très grande vitesse

Werth Messtechnik expose à nouveau sur l’EMO la toute dernière innovation de sa très large gamme de capteurs optiques, le Chromatic Focus Line (CFL). Celui-ci permet de saisir rapidement l’ensemble de la géométrie d’une pièce de petite dimension. Grâce à différents objectifs, la profondeur de champ et l’incertitude de mesure peuvent s’adapter à une application spécifique. De par la plage de mesure axiale de grande dimension, une localisation précise par rapport à la pièce n’est souvent pas nécessaire, de sorte que le scanning permet de saisir de grandes surfaces facilement et rapidement. Des pièces présentant de grandes variations de hauteur peuvent être scannées selon une trajectoire 3D définie. Le capteur optique Chromatic Focus Line mesure des pièces présentant des surfaces tant diffuses que réfléchissantes et transparentes, ainsi que des surfaces fortement inclinées.
Le CFL projette une série d’environ 200 points lumineux blancs sur la surface de la pièce. La lumière réfléchie par la surface est analysée par un spectromètre, la distance entre le capteur et la surface est ainsi déterminée. Environ un million de points de mesure sont mesurés en trois secondes. Avec ce nouveau capteur optique à lignes, une saisie 3D complète de la pièce avec une précision et une vitesse élevées est possible. En plus de la longueur d’onde de la lumière réfléchie, son intensité est également évaluée et une image Raster de la surface de la pièce est générée. L’évaluation qui s’ensuit avec le logiciel d’analyse d’image permet de réaliser « dans le champ optique » des mesures de caractéristiques géométriques ou de définir le système de coordonnées de la pièce. Les positions de mesure avec d’autres capteurs différents sont déterminées sur cette base, sans qu’un changement de capteur soit nécessaire.
Grâce à la précision du CFL et sa vitesse de mesure élevée, des pièces de précision et des micro-caractéristiques peuvent être mesurées. Le capteur peut être utilisé sur des pièces réfléchissantes ou transparentes, comme des matrices, des outils carbure ou diamantés, mais aussi sur des pièces en plastique à réfléchissement diffus. La forte densité de points permet de déterminer la topographie de surfaces les plus diverses, comme des pièces mécaniques de précision, des platines de montre par exemple. Avec la mesure de la coplanarité de matrices de LED intégrée au procédé de fabrication, la technologie des semi-conducteurs constitue un autre domaine d’application typique pour le CFL. Le résultat de mesure obtenu donne la forme complète de la surface de la pièce sous forme d’un nuage de points pouvant être utilisé pour déterminer la planéité ou la rugosité, et pour mesurer des éléments géométriques. Une comparaison nominal-réel par représentation colorimétrique des écarts est également possible. Ainsi, la rapidité de mesure et d’analyse des points contrôlés permet une réactivité immédiate ou presque au gestionnaire du procédé de production. Monté sur une machine de contrôle en bord de ligne, ce type de mesure peut aussi devenir interactif avec le procédé lui-même. C’est aussi cela, l’usine 4.0.