Système de tomographie numérique par rayons X

Nikon Metrology a apporté des améliorations à son système de tomographie numérique (TN) par rayons X, microfocus, de 225 kV pour créer le XT H 225 ST 2x. On distingue deux caractéristiques intéressantes. La première, appelée Rotating.Target 2.0, utilise un refroidissement, tout en maîtrisant la taille de la tâche focale, jusqu’à trois fois plus petite pour des images toujours plus claires. La seconde, le Half.Turn CT, est une méthode permettant de diviser quasiment par deux l’angle de rotation d’un échantillon pendant l’acquisition, ce qui accélère le processus, tout en conservant une qualité d’image optimale. Se voulant plus simple d’utilisation et…